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新一代晶圓級封裝(WLCSP)技術介紹

[發(fā)布日期:2023-05-30 16:51:15] 點擊:


 

  WLCSP(Wafer-Level Chip-Scale Package)是一種將晶圓級封裝(WLP)和芯片尺寸封裝(CSP)合為一體的封裝技術。芯片尺寸封裝(CSP)是指整個package的面積相比于silicon總面積不超過120%的封裝技術。該技術有效促進集成電路的小型化,但是其不適合服務器級處理器的應用。晶圓級封裝(WLP)是指在晶圓前道工序完成后,直接對晶圓進行封裝,再切割分離成單一芯片,相對于傳統(tǒng)封裝將晶圓切割成單個芯片后再進行封裝,WLP 技術在封裝成本和生產(chǎn)效率等方面具有明顯的優(yōu)勢。目前大部分先進封裝,比如英特爾的Foveros系列,臺積電的SOIC, InFO等等都是基于晶圓級的。WLCSP則是巧妙地結合上述兩種封裝方式的優(yōu)點。相比于傳統(tǒng)的引線鍵合,WLCSP最大特點就是封裝體積小,互聯(lián)路徑短。WLCSP的應用非常廣泛,相比于引線鍵合工藝能夠更好地滿足便攜式電子設備、智能手機、平板電腦、可穿戴設備等小型高集成度產(chǎn)品的需求。但是WLCSP也是有其局限性的,因其可用于bump的面積受silicon面積限制,所以總共的IO(input/output)數(shù)量有限,通常其IO密度也相對較低。

  WLCSP可以從有無重布線層來分成兩種結構類型:直接凸塊BOP (bump on pad)和重布層RDL(Redistribution Layer)。直接凸塊WLCSP包含一個可選的介電層(常見的有聚酰亞胺,苯并環(huán)丁烯 和聚苯并雙惡唑等),這個層用作有源裸片表面上的應力緩沖器。該介電層覆蓋了除連接焊盤開窗區(qū)域(pad opening)之外的整個裸片面積。在這些開窗區(qū)域之上濺射或電鍍凸塊下金屬層(UBM)。UBM是不同金屬層的堆疊,包括抗擴散層、潤濕層和抗氧化層。然后通過植球回流焊方式來形成焊球或者銅柱加錫膏凸塊。與直接凸塊WLCSP不同的是,重布層WLCSP使用兩層或者更多的介電層。第一層介電層和BOP工藝一樣附在裸片上。然后通過光刻顯影薄膜沉積電鍍等工藝在介電層上形成金屬層。金屬層通過垂直通孔和芯片的pads相連。如果集成度比較高的話,可能需要更多層的重布線。接下去需要在金屬層上再敷上一層介電層,然后在介電層打孔形成vias。然后類似于第一層金屬層的流程來完成制造第二層金屬層。同樣的方法,還可以繼續(xù)用類似的工藝增加更多的重布線層。目前重布線層一般不超過4層。最后在表面涂布表面介電層,然后通過植球形成C4或者帶銅柱的C2 bumps。

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