[發(fā)布日期：2020-09-18 14:31:31] 點擊：
PCT試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。
PCT對PCB的故障模式：起泡(Blister)、斷裂(Crack)、止焊漆剝離(SR de-lamination)。
半導體的PCT測試：PCT最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。
PCT對IC半導體的可靠度評估項目：Die Attach Epoxy (or Film)、導線架材料、封膠樹脂
腐蝕失效與IC：腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質(zhì)離子)會造成IC的鋁線發(fā)生電化學腐蝕，而導致鋁線開路以及遷移生長。
塑封半導體因濕氣腐蝕而引起的失效現(xiàn)象：
由于鋁和鋁合金價格便宜，加工工藝簡單，因此通常被使用爲積體電路的金屬線。從進行積體電路塑封製程開始，水氣便會通過環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導線産生腐蝕進而産生開路現(xiàn)象，成爲品質(zhì)管理最爲頭痛的問題。雖然通過各種改善包括採用不同環(huán)氧樹脂材料、改進塑封技術和提高非活性塑封膜爲提高産品質(zhì)量進行了各種努力，但是隨著日新月異的半導體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導線腐蝕問題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術課題。
鋁線中産生腐蝕過程：
?、?水氣滲透入塑封殼內(nèi)→濕氣滲透到樹脂和導線間隙之中
?、?水氣滲透到晶片表面引起鋁化學反應
加速鋁腐蝕的因素：
①樹脂材料與晶片框架介面之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率的差異)
?、诜庋b時，封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子的污染(由于雜質(zhì)離子的出現(xiàn))
③非活性塑封膜中所使用的高濃度磷
?、芊腔钚运芊饽ぶ写嬖诘娜毕?/p>
水汽進入IC封裝的途徑：
1.IC晶片和引線框架及SMT時用的銀漿所吸收的水
2.塑封料中吸收的水分
3.塑封工作間濕度較高時對器件可能造成影響;
4.包封后的器件，水汽透過塑封料以及通過塑封料和引線框架之間隙滲透進去，因為塑膠與引線框架之間只有機械性的結合，所以在引線框架與塑膠之間難免出現(xiàn)小的空隙。
備注：只要封膠之間空隙大于3.4*10^-10m以上，水分子就可穿越封膠的防護
備注：氣密封裝對于水汽不敏感，一般不採用加速溫濕度試驗來評價其可靠性，而是測定其氣密性、內(nèi)部水汽含量等。
針對Die Attach Epoxy (or Film) 的氣泡消除, ELT壓力除泡烤箱可以很有效的執(zhí)行, 且已在業(yè)界行之多年。ELT智能化全自動除泡機，采用真空+壓力+高溫物理除泡工藝，無塵潔凈真空環(huán)境，含氧量自動控制，快速升溫，快速降溫，揮發(fā)氣體過濾更環(huán)保，10寸工業(yè)型電腦，烘烤廢氣內(nèi)循環(huán)收集，氣冷式安全設計，高潔凈選配，真空/壓力/溫度&時間彈性式設定。廣泛應用于灌膠封裝，印刷，壓膜等半導體電子新能源電池等諸多領域。
